Omni-FD系列像差校正光柵光譜儀：北京卓立漢光儀器有限公司推出基于平場光柵的像差校正光柵光譜儀，可以為客戶提供1-80nm信號測量方案，解決從軟x射線-極紫外-真空紫外信號分析。

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更新時間：2025-06-20

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Omni-FD系列像差校正光柵光譜儀

產(chǎn)品概述

北京卓立漢光儀器有限公司推出基于平場光柵的像差校正光柵光譜儀，可以為客戶提供1-80nm信號測量方案，解決從軟x射線-極紫外-真空紫外信號分析。該譜儀同時提供相應相機接口，可以配合真空相機（國產(chǎn)或進口）或是MCP板進行不同能量信號的測試。可應用于極紫外信號標定，高次諧波等高能實驗。

本譜儀提供三種光柵，可以分別測試1-5nm，5-20nm以及20-80nm的信號測量，設備占空間小，并且接受個性化定制，可以完*配合您的實驗。

譜儀基本參數(shù)：

· 入射角度 87度

· 適用設備 MCP（微通道板）或直接真空相機

· 真空度低于10E-5Pa

· 光柵尺寸 50X30mm

· 獨*的進光口設計，可解決入口雜散光干擾問題

· 獨*的譜線校準方案

· 根據(jù)測試不同波長能量提供多種光柵

· 探測面可連續(xù)可調，方便不同探測器焦深

· 獨*的零級干擾去除方案

1200g/mm光柵衍射示意圖：

Omni-FD系列像差校正光柵光譜儀

光柵信息：

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